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紫外輻照計(jì)UV-A

簡要描述:紫外輻照計(jì)UV-A采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

  • 產(chǎn)品型號:UV-A
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-14
  • 訪  問  量:2617

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)

紫外輻照計(jì)UV-A

紫外輻照計(jì)已取得中華人民共和國制造計(jì)量器具許可證和計(jì)量器具型式批準(zhǔn)證書。

紫外輻照計(jì)UV-A執(zhí)行企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/HDSDY0003-2014。UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

特點(diǎn)

    光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

    數(shù)字液晶顯示,帶背光
    手動/自動量程切換
    數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
    低電量提醒
    自動延時(shí)關(guān)機(jī)
    有數(shù)字保持
    輕觸按鍵操作,蜂鳴提示

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目參數(shù)備注
波長范圍λ1,峰值波長λp(320~400)nm,λP=365nm配備兩只探頭
波長范圍λ2,峰值波長λp(375~475)nm,λP=420nm
輻照度測量范圍(0.1~199.9×103) μW/cm2 
紫外帶外區(qū)雜光0.02% 
相對示值誤差±8%(相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)) 
角度響應(yīng)特性±5% (α≤10°) 
線性誤差±1% 
換檔誤差±1% 
短期不穩(wěn)定性±1%(開機(jī)30min后) 
零值誤差滿量程的±1% 
響應(yīng)時(shí)間<1秒 
使用環(huán)境溫度(0~40)℃;濕度<85%RH 
尺寸和重量160mm×78mm×43mm;0.2kg 
電源6F22型9V積層電池(非充電電池) 
整機(jī)功耗<0.1VA 

 

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